Semiconductor Testing

Thin copper oxide wires are applied to crystalline yttrium barium to test conductivity. (Photo by Corbis/VCG via Getty Images)
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DETAILS

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Bildnachweis:
Corbis / Kontributor
Redaktionell #:
635765217
Kollektion:
Corbis Historical
Erstellt am:
1. Januar 1989
Hochgeladen am:
Lizenztyp:
Releaseangaben:
Kein Release verfügbar. Weitere Informationen
Quelle:
Corbis Historical
Objektname:
IH058245
Max. Dateigröße:
2893 x 1999 px (24,49 x 16,92 cm) - 300 dpi - 3 MB